ДОСТАВКА ПО РОССИИ И СТРАНАМ СНГ
РЕЖИМ РАБОТЫ
09.00-18.00, пн-пт
Корзина (0)
Прибор измерения толщины тонких пленок MProbe 20
MProbe 20 - настольная система для измерения толщин тонких пленок и оптических свойств материалов.
Область применения:
- Измерение толщины, оптических констант
- Измерение тонкопленочных гетероструктур солнечных элементов: aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe
- Органическая электроника (ОСИД)
- Оптические покрытия: фильтры, твердые покрытия, антибликовые (просветляющие) покрытия
- Полупроводники и диэлектрики: оксиды, нитриды, фоторезист, полимеры
Особенности:
- Измерение и анализ данных в режиме реального времени
- Измерение многослойных структур
- Обширная предустановленная библиотека материалов (более 500) с возможностью самостоятельного дополнения и редактирования
- Специализированное программное обеспечение с интуитивно понятным интерфейсом
- Простая интеграция с внешней системой при помощи интерфейса TCP или Modbus
- Компактный размер
Технические характеристики
| Размер образца | От 4 мм |
| Диапазон измеряемых толщин | 1 нм – 1000 мкм (в зависимости от модели) |
| Размер пучка | 2 мм (опция до 3 мкм) |
| Спектральное разрешение | < 2 нм |
| Точность | 0,2% либо 1 нм |
| Воспроизводимость | 0,02 нм либо 0,03% |
| Питание | 100-250 В, 50/60 Гц, 20 Вт |
| Габаритные размеры (ДхШхВ) | 20 х 25 х 10 см |
| Дополнительные опции | Подложкодержатель для образцов размером до 200 х 200 мм; Функция автоматического измерения по пластине диаметром до 300 мм; Ахроматическая фокусирующая линза, WD 35 мм, размер пятна <0,5 мм; Широкополосный фильтр, ограничивает длину волны до 500 нм (применяется для измерений фоторезиста); Держатель для работы с прозрачными и гибкими образцами (обеспечивает крепление образца лицевой поверхностью вниз); Конфигурация для измерения спектров пропускания; 2-ух канальный переключатель, позволяет одновременно измерять спектры отражения и пропускания; Улучшенный спектрометр с разрешением < 1 нм; Удаленное управление через протокол Modbus. |